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產(chǎn)品與技術(shù)

• 制造類EDA

  • SPICE模型

    • 基帶建模 / BSIMProPlus
    • 射頻建模 / MeQLab
    • 自動(dòng)化提取 / SDEP
    • 驗(yàn)證評(píng)估 / ME-Pro

  • PDK

    • PCell開發(fā) / PCellLab
    • PDK驗(yàn)證 / PQLab

  • 標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)

    • 特征化 / NanoCell
    • 驗(yàn)證 / LibWiz

• 泛模擬設(shè)計(jì)類EDA

  • 電路設(shè)計(jì)平臺(tái)

    • 原理圖設(shè)計(jì) / NanoDesigner SE
    • 版圖編輯 / NanoDesigner LS
    • 交互式物理驗(yàn)證 / NanoDesigner?iV
    • 設(shè)計(jì)優(yōu)化 / NanoDesigner?Optimizer

  • 電路仿真

    • SPICE仿真器 / NanoSpice
    • SPICE仿真器 / NanoSpice X
    • SPICE仿真器 / NanoSpice?Giga
    • FastSPICE仿真器 / NanoSpice?Pro
    • FastSPICE仿真器 / NanoSpice Pro X
    • 混合信號(hào)仿真 / NanoSpice?MS
    • 波形查看分析 / NanoWave

  • 電路分析

    • 動(dòng)態(tài)和靜態(tài)電路檢查 / NanoSpice CCK
    • 良率分析 / NanoYield
    • 信號(hào)完整性分析 / NanoSpice?SI
    • 路徑分析 / PathInspector
    • 功率及電源芯片設(shè)計(jì)驗(yàn)證 / PTM
    • 電源網(wǎng)絡(luò)分布分析 / RNi
    • ESD驗(yàn)證 / ESDi

• 數(shù)字設(shè)計(jì)類EDA

  • 電路仿真

    • 數(shù)字仿真 / VeriSim

  • 標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)

    • 特征化 / NanoCell
    • 驗(yàn)證 / LibWiz

  • SoC設(shè)計(jì)與驗(yàn)證

    • 時(shí)序分析 / TRASTA
    • 設(shè)計(jì)布局規(guī)劃 / NavisPro
    • 信號(hào)完整性 / NanoSpice?SI
    • 電源分析 / PTM
    • ESD驗(yàn)證 / ESDi
    • 芯片封裝連接驗(yàn)證 / PadInspector

• 測(cè)試系統(tǒng)

  • 參數(shù)化測(cè)試

    • 半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試 / FS-Pro
    • 半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試 / FS-MEMS
    • 半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試 / FS800

  • 噪聲測(cè)試

    • 低頻噪聲測(cè)試 / 9812DX
    • 低頻噪聲測(cè)試 / 9812E
    • 低頻噪聲測(cè)試 / 9813DXC
    • 動(dòng)態(tài)交流噪聲測(cè)試 / 9812AC

  • 綜合量測(cè)

    • 自動(dòng)量測(cè)方案 / ATS
    • 電性參數(shù)測(cè)試軟件 / LabExpress

• 一站式技術(shù)開發(fā)

  • 晶圓測(cè)試

    • 數(shù)據(jù)測(cè)試 / 數(shù)據(jù)測(cè)試與分析

  • SPICE建模

    • SPICE建模 / 模型提取與驗(yàn)證

  • 測(cè)試芯片設(shè)計(jì)

    • 測(cè)試結(jié)構(gòu)和版圖 / 測(cè)試結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)與版圖實(shí)現(xiàn)

  • 新器件

    • 新器件 / 新器件解決方案

  • PDK開發(fā)

    • PDK工藝設(shè)計(jì)包 / PDK開發(fā)與驗(yàn)證

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    • IP開發(fā) / 一站式IP開發(fā)

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• 電路仿真驗(yàn)證一體化解決方案

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