標(biāo)準(zhǔn)單元庫特征化解決方案
通過智能分析算法來分析、提取單元的ARC和功能。
采用先進(jìn)的分布式并行架構(gòu)技術(shù)。
內(nèi)置功能強(qiáng)大的NanoSpice仿真器。
精確、高效的平面工藝和FinFET工藝(支持7nm)單元電路特征仿真與提取,包括時(shí)序、功耗及噪聲等。
提供友好、易使用的接口,幫助用戶縮短產(chǎn)品開發(fā)周期。
配備先進(jìn)的分布式并行架構(gòu)
比REF工具快2倍
基于單元電路分析算法
自動(dòng)化完整提取ARC
內(nèi)置并行的NanoSpice引擎
支持先進(jìn)的K庫模型
支持7nm
FinFET先進(jìn)工藝
簡(jiǎn)潔易用的配置和用戶接口
內(nèi)置便捷的benchmark liberty utility工具
支持ARM/X86和SGE/LSF集群
擴(kuò)容性良好
Planar工藝庫特征化
FinFET工藝庫特征化
定制化單元庫特征化
云計(jì)算庫特征化